Tof SIMS - Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
Tof SIMS im Überblick
Kategorie:
Qualitative chemische Identität an der Oberfläche
Information über:
Atomare und molekulare Zusammensetzung an der Monoschicht der Oberfläche (<2 nm) mit einer räumlichen Auflösung von bis zu 200 nm und Nachweisgrenzen von 10 ppm
Zusätzliche Information:
Massenspektrum der Oberflächenspezies und Imaging von Dichtedarstellungen, um die Zusammensetzung und Verteilung der Oberfläche zu zeigen sowie zur Bestimmung des Tiefenprofils. Dies zeigt die lokale Verteilung der chemischen Spezies in dem Substrat
Messung von:
Tof-SIMS hat sich bewährt in der Analyse und dem Nachweis der chemischen Zusammensetzung an der Oberfläche und wird angewendet bei:
Pigmente und Dispergiermittel
Feste Materialien: Metalle, Keramik, Gläser oder Kunststoffe
Ausserdem: Leitfähige und isolierende Substrate, Pulver, Textilien und strukturierte Oberflächen
Anwendungsgebiete:
Das Verfahren hat eine breite Anwendbarkeit in der Halbleiter-, Polymer-, Farb- und Beschichtungs-, Biomaterialien-, Pharma-, Glas-, Papier- und Metall-Industrie.
Alternativen:
Tof-SIMS ist auch ein nützliches Mittel, um Kompositmaterialien, Dünnfilme, Schichtstrukturen, Korrosionsmechanismen sowie Kontamination von Katalysatoren zu charakterisieren.
Tof-SIMS ist eine destruktive Methode, die eine Oberfläche abbaut. Verwendung von XPS, als zerstörungsfreie Analysemethode, bietet ähnliche Informationen über die chemische Zusammensetzung, jedoch fehlt die räumliche Auflösung des TOF-SIMS. Oberflächen-Raman- und Infrarot-Spektroskopie sind Methoden zur Bestimmung der funktionellen Gruppen. Diese bieten eine bessere Tiefenwirkung, jedoch mit reduzierter räumlicher Auflösung.
Beschreibung in Wikipedia:
http://de.wikipedia.org/wiki/Sekund%C3%A4rionen-Massenspektrometrie
http://en.wikipedia.org/wiki/Static_secondary-ion_mass_spectrometry
Qualitative chemische Identität an der Oberfläche
Information über:
Atomare und molekulare Zusammensetzung an der Monoschicht der Oberfläche (<2 nm) mit einer räumlichen Auflösung von bis zu 200 nm und Nachweisgrenzen von 10 ppm
Zusätzliche Information:
Massenspektrum der Oberflächenspezies und Imaging von Dichtedarstellungen, um die Zusammensetzung und Verteilung der Oberfläche zu zeigen sowie zur Bestimmung des Tiefenprofils. Dies zeigt die lokale Verteilung der chemischen Spezies in dem Substrat
Messung von:
Tof-SIMS hat sich bewährt in der Analyse und dem Nachweis der chemischen Zusammensetzung an der Oberfläche und wird angewendet bei:
Pigmente und Dispergiermittel
- Funktionalisierte Oberflächen nach chemischer Abscheidung
- Dünnfilme und Dotierungsprofile in der Mikroelektronik
- Kompositmaterialien wie Keramik, Papier, Kunststoff
Feste Materialien: Metalle, Keramik, Gläser oder Kunststoffe
Ausserdem: Leitfähige und isolierende Substrate, Pulver, Textilien und strukturierte Oberflächen
Anwendungsgebiete:
Das Verfahren hat eine breite Anwendbarkeit in der Halbleiter-, Polymer-, Farb- und Beschichtungs-, Biomaterialien-, Pharma-, Glas-, Papier- und Metall-Industrie.
Alternativen:
Tof-SIMS ist auch ein nützliches Mittel, um Kompositmaterialien, Dünnfilme, Schichtstrukturen, Korrosionsmechanismen sowie Kontamination von Katalysatoren zu charakterisieren.
Tof-SIMS ist eine destruktive Methode, die eine Oberfläche abbaut. Verwendung von XPS, als zerstörungsfreie Analysemethode, bietet ähnliche Informationen über die chemische Zusammensetzung, jedoch fehlt die räumliche Auflösung des TOF-SIMS. Oberflächen-Raman- und Infrarot-Spektroskopie sind Methoden zur Bestimmung der funktionellen Gruppen. Diese bieten eine bessere Tiefenwirkung, jedoch mit reduzierter räumlicher Auflösung.
Beschreibung in Wikipedia:
http://de.wikipedia.org/wiki/Sekund%C3%A4rionen-Massenspektrometrie
http://en.wikipedia.org/wiki/Static_secondary-ion_mass_spectrometry
Dies ist eine der Analyse-Methoden, die Sie für Ihre Substanzen einsetzen können.
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